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微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化钐中稀土杂质
引用本文:李继东,伍星,郑永章. 微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化钐中稀土杂质[J]. 中国稀土学报, 2005, 23(1): 109-112
作者姓名:李继东  伍星  郑永章
作者单位:北京有色金属研究总院分析测试中心,北京,100088
基金项目:科技部 科技基础性工作专项资助课题(基2001 16)
摘    要:研究了微柱分离 ICP MS测定高纯氧化钐中痕量Dy,Ho,Er,Tm的方法,方法基于采用Cyanex272负载树脂微柱,选定上述杂质与大量基体分离的实验条件,分离周期为32min。最终建立了微柱分离Sm后测定Dy,Ho,Er,Tm,其他稀土杂质用内标补偿ICP MS法直接测定的分析方法。方法测定下限为0.1~5.0μg·g-1,加标回收率为90%~115%,相对标准偏差为0.9%~5.1%。本法可满足快速测定99.999%氧化钐中14个稀土杂质的要求。

关 键 词:微柱分离 ICP—MS 高纯氧化钐 杂质 稀土
文章编号:1000-4343(2005)01-0109-04

Micro-Column Separation-ICP-MS Determination of REE Impurities in High-Purity Sm2O3
Li Jidong,Wu Xing,Zheng Yongzhang. Micro-Column Separation-ICP-MS Determination of REE Impurities in High-Purity Sm2O3[J]. Journal of the Chinese Society of Rare Earths, 2005, 23(1): 109-112
Authors:Li Jidong  Wu Xing  Zheng Yongzhang
Affiliation:Li Jidong~*,Wu Xing,Zheng Yongzhang
Abstract:
Keywords:micro-column separation  ICP-MS  high purity Sm_2O_3  impurity  rare earths
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