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241Am-XRF analysis of rare earths in geological samples
Authors:G. Lagarde  J. Larcher
Affiliation:(1) Laboratoire de Chimie Nucléaire, Centre de Recherches Nucléaires, B. P. 20, 67037 Strasbourg Cedex, France
Abstract:Rare earths in sediments are analyzed by X-ray fluorescence using241Am as an excitation source. The analytical sensitivity lies in the ppm range.
Keywords:
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