首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

等离子体增强化学气相沉积(PECVD)SnO_2薄膜及其性质研究
引用本文:吕德安,戴国瑞,邵丽梅,张晓燕.等离子体增强化学气相沉积(PECVD)SnO_2薄膜及其性质研究[J].吉林大学学报(理学版),1988(1).
作者姓名:吕德安  戴国瑞  邵丽梅  张晓燕
作者单位:吉林大学电子科学系,吉林大学电子科学系,吉林大学电子科学系,吉林大学电子科学系 1985年吉林大学电子科学系毕业生,1985年吉林大学电子科学系毕业生
摘    要:本文采用PECVD技术,在SnCl_4和氧等离子体气氛中,于250℃衬底温度,在有SiO_2表面层的硅单晶衬底片上沉积了SnO_2,薄膜。并对该膜的化学组成、表面形貌及其它性质做了研究。

关 键 词:等离子体  沉积  薄膜

A Study on Properties of the SnO_2 Films by PECVD Method
Lu Dean. Dai Guorui,Shao Limei and Zhang Xiaoyan.A Study on Properties of the SnO_2 Films by PECVD Method[J].Journal of Jilin University: Sci Ed,1988(1).
Authors:Lu Dean Dai Guorui  Shao Limei and Zhang Xiaoyan
Abstract:
Keywords:plasma  deposition  film  
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号