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| 再发射技术测量SGⅡ黑腔靶早期对称性 | |
| 引用本文： | 陈伯伦,蒋炜,景龙飞,袁铮,黎航,余波,蒲昱东,苏明,晏骥,黄天晅,江少恩,刘慎业,杨家敏,丁永坤.再发射技术测量SGⅡ黑腔靶早期对称性[J].强激光与粒子束,2013,25(2):385-388. |
| 作者姓名： | 陈伯伦 蒋炜 景龙飞 袁铮 黎航 余波 蒲昱东 苏明 晏骥 黄天晅 江少恩 刘慎业 杨家敏 丁永坤 |
| 作者单位： | 1.中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621 900 |
| 基金项目： | 国家高技术发展计划项目 |
| 摘 要： | 利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性。2011年在神光Ⅱ激光装置上，采用Bi替代靶，通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置，利用分幅相机获得较高信噪比的Bi球表面再发射图像。利用实验结果获得了入射流不对称性P2分量随时间的变化，对比两种腔长的黑腔，P2分量随时间的变化存在明显差别。两种腔P2分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致。 |
| 关 键 词： | 再发射 早期不对称性 P2分量 Bi替代靶 |
| 收稿时间： | 2012/4/11 |
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