高纯钨中二十五个痕量杂质元素的发射光谱分析 |
| |
引用本文: | 蒋福生,何少奇,林华煦.高纯钨中二十五个痕量杂质元素的发射光谱分析[J].分析化学,1983(10). |
| |
作者姓名: | 蒋福生 何少奇 林华煦 |
| |
作者单位: | 株洲硬质合金工业公司研究所,株洲硬质合金工业公司研究所,株洲硬质合金工业公司研究所 |
| |
摘 要: | 本文对发射光谱胡测定纯钨中痕量杂质元素方法中的裁体、缓冲剂组份、电极规格以及激发电源参数进行了研究,拟定了以国产一米光栅摄谱仪、设备和试剂,一次摄谱,同时测定钠、铍、镁、钙、钡、铝、铜、锌、铁、锰、镍、钴、钛、钒、铬、钼、钪、镱、硅、铅、铋、锡、锑、镉、砷二十五个痕量杂质元素的方法。测定下限是0.004—4ppm,测定下限总量为22.414ppm,相对标准偏差为1.6—27.7%。操作简便快速,灵敏、准确。
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|