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应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素
引用本文:初学莲,林晓燕,程琳,孙洪波,杜晓光,丁训良.应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素[J].核物理动态,2008,25(1):61-66.
作者姓名:初学莲  林晓燕  程琳  孙洪波  杜晓光  丁训良
作者单位:北京师范大学低能核物理研究所,北京100875
摘    要:应用一种使用X光透镜的微束X射线荧光(MXRF)分析技术,对北京不同地区的松针中重金属元素及S元素含量进行了测定和分析,探讨了它们与大气污染之间的关系;根据受损松针与正常松针检测结果的比较,确定了污染元素。对小叶黄杨叶片中部进行了二维微区自动扫描,得出了小叶黄杨叶片对各种金属元素的抗污染能力。研究结果从方法学上验证了使用X光透镜的MXRF分析技术在测量环境样品中的应用,为环境科研、污染治理和环境管理提供了科学依据。

关 键 词:微束X射线荧光  X光透镜  植物叶片  环境污染
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