应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素 |
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引用本文: | 初学莲,林晓燕,程琳,孙洪波,杜晓光,丁训良.应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素[J].核物理动态,2008,25(1):61-66. |
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作者姓名: | 初学莲 林晓燕 程琳 孙洪波 杜晓光 丁训良 |
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作者单位: | 北京师范大学低能核物理研究所,北京100875 |
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摘 要: | 应用一种使用X光透镜的微束X射线荧光(MXRF)分析技术,对北京不同地区的松针中重金属元素及S元素含量进行了测定和分析,探讨了它们与大气污染之间的关系;根据受损松针与正常松针检测结果的比较,确定了污染元素。对小叶黄杨叶片中部进行了二维微区自动扫描,得出了小叶黄杨叶片对各种金属元素的抗污染能力。研究结果从方法学上验证了使用X光透镜的MXRF分析技术在测量环境样品中的应用,为环境科研、污染治理和环境管理提供了科学依据。
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关 键 词: | 微束X射线荧光 X光透镜 植物叶片 环境污染 |
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