VG 354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用 |
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引用本文: | 肖应凯,魏海珍,王庆忠,张崇耿,孙爱德. VG 354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用[J]. 分析化学, 2002, 30(10): 1272-1276 |
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作者姓名: | 肖应凯 魏海珍 王庆忠 张崇耿 孙爱德 |
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作者单位: | 中国科学院青海盐湖研究所,西宁,810008 |
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基金项目: | 文系中国科学院大型仪器改造项目(No.2000-216) |
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摘 要: | 设计了一种用于VG 354 型热电离质谱计电离带低温测量装置(DWZZ).它由热电偶温度计及连接件组装而成,能即时测定电离带的表面温度.测定的离子源中电离带的低温段温度与加热电流的关系可用关系式y=-ax3+bx2-cx+d表示,温度测定的误差<±2℃.此装置已用于石墨非还原热离子发射特性和石墨存在下M2BO+2、M2X+离子的发射机理的研究.
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关 键 词: | VG354质谱计 离子源 电离带 低温测量设备 应用 热离子发射 温度测量 |
A Devices for Measuring Low Temperature of Filament in Ion Source of VG 354 Thermal Ionization Mass Spectrometer and Its Application |
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Abstract: | |
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Keywords: | Mass spectrometry thermal ion emission measurement of temperature |
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