飞秒脉冲探测半导体 |
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引用本文: | Aust.,DH 陈辰嘉.飞秒脉冲探测半导体[J].物理,1991,20(4):214-218. |
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作者姓名: | Aust. DH 陈辰嘉 |
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摘 要: | 在半导体微电子学中,小尺度的高速电子器件始终是人们关注的焦点.要发展更高速的器件,就必须详细了解皮秒(ps)和飞秒(fs)时标上半导体中电子的动力学性质,这就向实验工作者提出了挑战.利用高速电子仪器的传统方法对飞秒测量已不再有效,因为即使是最好的电子仪器也被其中半导体元件的某些物理效应所限制,而这些物理效应恰好是我们希望观察的.解决这个矛盾的办法是选择其他具有超高级时间分辨率的测量工具──短脉冲激光器.在速度方面,光学几乎超过电子学两个量级,而且用光学技术测量半导体器件及线路的电学性质还有其他一些优点,例如微扰最小…
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关 键 词: | 半导体 脉冲 光电子学 测量 飞秒 |
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