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| ICP—AES法测定碲锭中A1,Ag,Bi,Cu,Cd等13个杂质元素 | |
| 引用本文： | 张桂广,马立奎.ICP—AES法测定碲锭中A1,Ag,Bi,Cu,Cd等13个杂质元素[J].光谱实验室,2000,17(1):95-96,97. |
| 作者姓名： | 张桂广 马立奎 |
| 作者单位： | [1]韶关出入境检验检疫局 [2]广东省核工业华南地质研究院 |
| 摘 要： | 本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱尖（ＩＣＰ－ＡＥＳ０测定碲锭中Ａ１、Ａｇ、Ｂｉ、Ｃｕ、Ｃｄ等１３个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰，测定结果令人满意。 |
| 关 键 词： | 碲锭 杂质元素 ICP－AES 发射光谱法 碲基体干扰 |
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