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电子电路故障诊断的新方法
引用本文:谭阳红,何怡刚.电子电路故障诊断的新方法[J].电路与系统学报,2004,9(5):72-75.
作者姓名:谭阳红  何怡刚
作者单位:湖南大学,湖南,长沙,410082
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50277010),高等学校博士学科点专项科研基金项目(20020532016),湖南省科技计划项目 (04FJ2003,03GKY3115,03GKY3036),湖南大学撷英计划资助
摘    要:本文提出了一种诊断大规模电子电路的子网络级故障诊断屏蔽方法,首先将电路撕裂成一定数目的子电路,在一定的激励条件下,依次对各子电路进行屏蔽,得到各子电路的逻辑诊断值或逻辑矩阵,最后用逻辑运算进行故障定位。

关 键 词:撕裂  大规模电路  集团  屏蔽
文章编号:1007-0249(2004)05-0072-04
修稿时间:2003年5月23日

A New Method of Fault Diagnosis for Electronic Circuits
TAN Yang-hong,HE Yi-gang.A New Method of Fault Diagnosis for Electronic Circuits[J].Journal of Circuits and Systems,2004,9(5):72-75.
Authors:TAN Yang-hong  HE Yi-gang
Abstract:A new method at sub-network-level of fault diagnosis for large-scale electronic circuits is presented. The fault circuit is firstly torn into several sub-circuits. Sub-circuits can be isolated and tested one after another while the inference of other not-tested circuits is replaced by certain stimulus. Hierarchical logical analysis is implemented with the help of logical diagnosis array and finally the fault sub-circuit is identified.
Keywords:torn  large-scale circuits  body
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