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太赫兹无损检测的研究*
引用本文:杨振刚,赵毕强,刘劲松,王可嘉.太赫兹无损检测的研究*[J].物理,2013(10).
作者姓名:杨振刚  赵毕强  刘劲松  王可嘉
作者单位:1. 华中科技大学光学与电子信息学院 武汉 430074
2. 华中科技大学武汉光电国家实验室 武汉 430074
基金项目:湖北省自然科学基金,校自主创新研究基金
摘    要:无损检测技术是一种不破坏零件或材料,可直接在现场进行检测的技术,广泛应用于样件的质量评估。太赫兹波具有量子能量低,对大多数非极性物质透明,兼具频谱性和成像性等特点。作为一种新型技术,太赫兹无损检测已经成为现有无损检测技术的有力补充。文章介绍了太赫兹成像系统的工作原理,阐述了基于连续太赫兹成像的无损检测技术在实际样件测试中的应用。实验测试结果表明,一些样件利用太赫兹无损检测技术可测得其内部缺陷。

关 键 词:太赫兹波  无损检测  反射成像  内部缺陷

Nondestructive inspection with terahertz waves
YANG Zhen-Gang , ZHAO Bi-Qiang , Liu Jin-Song , WANG Ke-Jia.Nondestructive inspection with terahertz waves[J].Physics,2013(10).
Authors:YANG Zhen-Gang  ZHAO Bi-Qiang  Liu Jin-Song  WANG Ke-Jia
Abstract:
Keywords:terahertz wave  nondestructive inspection  reflection imaging  inner defect
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