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分析光学薄膜的椭偏方程的计算方法

作者姓名：	范正修杨本祺

作者单位：	中国科学院上海光学精密机械研究所(范正修)，中国科学院上海光学精密机械研究所(杨本祺)

摘要：	叙述了用测量到的椭偏角ψ及Δ来确定光学薄膜的折射率、厚度和消光系数的方法.该方法收敛较快并节省时间.
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