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Fabrication and characterization of V-gate AIGaN/GaN high-electron-mobility transistors
Authors:
Zhang Kai
Cao Meng-Yi
Chen Yong-He
Yang Li-Yuan
Wang Chong
Ma Xiao-Hua
and Hao Yue
Institution:
1 Key Laboratory for Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, School of Microelectronics, Xidian University, Xi' an 710071, China 2 School of Technical Physics, Xidian University, Xi ' an 710071, China)
Abstract:
Keywords:
high-electron-mobility transistors
electric-field distribution
field plate
current dispersion
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