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c向提拉法生长的四英寸蓝宝石单晶缺陷研究
引用本文:彭方,张庆礼,杨华军,王小飞,王迪,孙敦陆,殷绍唐.c向提拉法生长的四英寸蓝宝石单晶缺陷研究[J].人工晶体学报,2012(Z1):143-147.
作者姓名:彭方  张庆礼  杨华军  王小飞  王迪  孙敦陆  殷绍唐
作者单位:中国科学院安徽光学精密械研究所安徽省光子器件与材料重点实验室;中国科学院研究生院
基金项目:国家自然科学基金(90922003,91122021,50932005,51172236)
摘    要:采用提拉法沿0001]方向成功生长出了四英寸蓝宝石单晶。X射线摇摆曲线测试结果表明晶体具有较好的晶格完整性。采用化学腐蚀法并借助光学显微镜观察了(0001)面的位错及形貌。研究了腐蚀温度、腐蚀时间、机械抛光和化学抛光对位错密度及形貌的影响。计算得到平均位错密度为6190 cm-2,优于一般提拉法生长的蓝宝石单晶。

关 键 词:提拉法  c轴蓝宝石  摇摆曲线  位错

Study on the Defect of 4-inches Sapphire Single Crystal Grown along c-axis Direction by Czochralski Method
PENG Fang,ZHANG Qing-li,YANG Hua-jun,WANG Xiao-fei,WANG Di,SUN Dun-lu,YIN Shao-tang.Study on the Defect of 4-inches Sapphire Single Crystal Grown along c-axis Direction by Czochralski Method[J].Journal of Synthetic Crystals,2012(Z1):143-147.
Authors:PENG Fang  ZHANG Qing-li  YANG Hua-jun  WANG Xiao-fei  WANG Di  SUN Dun-lu  YIN Shao-tang
Institution:1(1.Anhui Key Laboratory of Photonic Devices and Materials,Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences, Hefei 230031,China;2.Graduate University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China)
Abstract:
Keywords:
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