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盐雾腐蚀对不同封装形式集成电路性能的影响
引用本文:杜迎.盐雾腐蚀对不同封装形式集成电路性能的影响[J].电子与封装,2006,6(2):24-27.
作者姓名:杜迎
作者单位:中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏,无锡,214035
摘    要:通过分析塑料封装、陶瓷封装、玻璃封装和金属封装集成电路的材料成分,得出它们抵抗盐雾的腐蚀能力。根据市场的使用情况,选用塑封、陶封、玻封三种封装形式的集成电路按照6种不同的试验条件进行盐雾试验。文章通过对试验后的结果进行比较和分析,得出在正常盐雾腐蚀条件下, 它们性能受到影响的大小;在不同盐雾溶液和不同的温度条件下,陶瓷封装电路的性能也发生了变化。最后对塑料封装、陶瓷封装、玻璃封装电路的抗盐雾腐蚀能力进行了总结。

关 键 词:腐蚀  温度  封装
文章编号:1680-1070(2006)02-24-04
收稿时间:2005-09-15
修稿时间:2005年9月15日

The Saltfog Rusty Influence for Different Package Types of IC's Performance
Du Ying.The Saltfog Rusty Influence for Different Package Types of IC's Performance[J].Electronics & Packaging,2006,6(2):24-27.
Authors:Du Ying
Institution:China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute Wuxi Jiangsu 214035, China
Abstract:By analyzing the integrated circuit' s material component of plastic package 、ceramic package、glass package and metal package types, drawing the anti-rusty ability for saltfog. Selecting three package types of IC , plastic package、ceramic package and glass package, making the saltfog test in six conditions at market' s using . drawing the performance influent in normal saltfog test condition by analyzing and compacting the result after testing ; the performance of ceramic package circuit changes in different saltfog liquor and different temperature.Finally summarizing the anti-saltfog rusty ability of plastic package、ceramic package and glass package.
Keywords:Rust  Temperature  Package
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