|
|||||
|
|
| 无标样厚靶PIXE分析中数值方法的应用 | |
| 作者姓名： | 范钦敏 钟溟 |
| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所 北京 |
| 摘 要： | 本文用数值方法对厚靶PIXE分析中所测得的特征K-X射线强度进行修正.修正包括入射质子在靶中的慢化,特征X射线在厚样中的吸收以及基体元素的特征X射线引发的待测元素X射线的增强等.同时,为了进行元标样分析,同蒙特卡罗方法对整个分析系统作了效率刻度.在此基础上,对一些自制的标准厚样进行了PIXE实验分析,分析结果与已知值有较好的符合. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《中国物理 C》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《中国物理 C》下载全文 | |