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高性能InGaAs/AlAs共振隧穿二极管的研制与器件模拟分析
引用本文:马龙,张杨,戴扬,杨富华,曾一平,王良臣.高性能InGaAs/AlAs共振隧穿二极管的研制与器件模拟分析[J].半导体学报,2007,28(4).
作者姓名:马龙  张杨  戴扬  杨富华  曾一平  王良臣
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:在半绝缘的InP衬底上采用分子束外延的方法生长制备了不同势垒厚度的RTD材料样品,室温下测量的最高峰-谷电流比为18.39.通过模拟得到RTD直流特性与势垒厚度、势阱材料及厚度、隔离层厚度以及掺杂浓度间的关系,对结果进行了分析与讨论.

关 键 词:共振隧穿二极管  峰-谷电流比  电流-电压特性  器件模拟

Fabrication and Device Simulation of High Performance InGaAs/AlAs Resonant Tunneling Diodes on InP Substrates
Ma Long,Zhang Yang,Dai Yang,Yang Fuhua,Zeng Yiping,Wang Liangchen.Fabrication and Device Simulation of High Performance InGaAs/AlAs Resonant Tunneling Diodes on InP Substrates[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(4).
Authors:Ma Long  Zhang Yang  Dai Yang  Yang Fuhua  Zeng Yiping  Wang Liangchen
Abstract:
Keywords:
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