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在Si(111)—(7×7)表面自组织生长二维Ge团簇超晶格
作者姓名:闫隆 张永平 彭毅萍 庞世谨 高鸿钧
作者单位:闫隆(中国科学院物理研究所和凝聚态物理中心北京真空物理开放实验室,北京,100080)      张永平(中国科学院物理研究所和凝聚态物理中心北京真空物理开放实验室,北京,100080)      彭毅萍(中国科学院物理研究所和凝聚态物理中心北京真空物理开放实验室,北京,100080)      庞世谨(中国科学院物理研究所和凝聚态物理中心北京真空物理开放实验室,北京,100080)      高鸿钧(中国科学院物理研究所和凝聚态物理中心北京真空物理开放实验室,北京,100080)
基金项目:国家自然科学基金(批准号:6977001)资助的课题.
摘    要:利用超高真空扫描隧道显微镜研究了室温条件下亚单层Ge在Si(111)-(7×7)表面上的自组织生长.通过控制Ge的沉积量,在Si(111)-(7×7)表面上自组织生长成一种具有六重对称性的二维Ge团簇超晶格.构成超晶格的Ge团簇均位于(7×7)亚单胞的位置上,而且它们的形状和大小基本保持一致.文中对这种自组织结构的形成机理进行了讨论.

关 键 词:扫描隧道显微镜(STM)   Si(111)-(7×7)表面   二维Ge团簇超晶格
修稿时间:2001-10-08
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