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| 氢化物发生—ICP发射光谱测定纯钨中砷 | |
| 引用本文： | 熊兴南,曲培秀.氢化物发生—ICP发射光谱测定纯钨中砷[J].分析测试学报,1986(3). |
| 作者姓名： | 熊兴南 曲培秀 |
| 作者单位： | 广州有色金属研究院 (熊兴南)，广州有色金属研究院(曲培秀) |
| 摘 要： | 纯钨中杂质测定,国内外主要采用电弧发射光谱法,As的测定多以2349.84 A作分析线,测定下限约为0.001%,该谱线因受W2349.82A重迭干扰,故测定下限与准确度均难以满足工艺要求。ICP发射光谱对As、Sb、Pb等元素检 |
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