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| ArⅡ的某些能级平均寿命的测量 | |
| 引用本文： | 王友德,刘惠萍.ArⅡ的某些能级平均寿命的测量[J].原子与分子物理学报,1994,11(1):53-57. |
| 作者姓名： | 王友德 刘惠萍 |
| 作者单位： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 摘 要： | 用１１０ｋｅＶ的Ａｒ＾＋离子与８．５μｇ／ｃｍ＾２的碳箔相互作用，研究ＡｒⅠ、ＡｒⅡ的激发光谱，并测量了６条ＡｒⅡ的某些能级的平均寿命，其结果和别的实验及理论计算进行了比较。为了延长碳箔的使用寿命，我们改进了制箔工艺，并调节合适的电流强度，使箔的使用寿命长到３０分钟以上。 |
| 关 键 词： | 束箔技术 原子能级 激发态 寿命 |
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