Exciton reflectivity of GaAs/Ga1?x Al x As multiple quantum wells

Summary The normal incidence reflectivity spectrum of excitons in GaAs/Ga_1−x Al _x As multiple quantum wells is calculated within the local response approximation. It is shown that the reflectivity lineshape strongly depends on the sample geometry. Using realistic parameters of a multiple quantum well structure, we obtain an excellent fit of the experimental reflectivity curve, thus giving exciton energies, oscillator strengths and exciton broadening parameters.

---

Riassunto Lo spettro di riflettività ad incidenza normale degli eccitoni nei pozzi quantistici multipli di GaAs/Ga_1−x Al _x As è calcolato nell’ambito dell’approssimazione locale. Si mostra con la forma della linea di riflettività dipende in gran misura dalla forma geometrica del campione. Usando parametri realistici di una struttura a pozzi quantistici multipli, si ottiene un’ottima approssimazione della curva di riflettività sperimentale, che fornisce così energie eccitoniche, forze dell’oscillatore e parameri di ampliamento eccitonico.

---

Резюме В рамках приближения линейного отклика вычисляется спекрт отражательной способности экситонов при нормальном падении для множественных квантовых ям в GaAs/Ga_1−x Al _x As. Показывается, что форма линии отражательной способности сильно зависит от геометрии образца. Используя реалистические параметры структуры множественных квантовых ям, мы получаем хорошее соответствие с экспериментальной кривой для отражательной способности. Получаются энергии экситонов, силы осцилляторов и парам⪟тры экситонного уширения.