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基于双线阵CCD的EPC/CPC数字测量系统
引用本文:何平安,彭晓钧,王卫平,项亚平,张明建,吴敏渊.基于双线阵CCD的EPC/CPC数字测量系统[J].光电子.激光,2006,17(5):608-611.
作者姓名:何平安  彭晓钧  王卫平  项亚平  张明建  吴敏渊
作者单位:武汉大学电子信息学院光电工程系,湖北,武汉,430079;武钢工程技术集团计控公司,湖北,武汉,430080
摘    要:针对目前带钢跑偏对中(EPC/CPC)的测量问题,提出了一种精度高、稳定性好的高速带钢EPC/CPC检测方案。该方案采用由Chip LED阵列和柱面透镜构成的平行光投射系统来照明,并利用高性能的线阵CCD来提取带钢边缘,同时开发了基于89C51单片机和CPLD器件的测量电路。详细介绍了该检测方案和EPC/CPC测量系统的组成。实验结果表明:该测量系统响应速度快、稳定性好,可使带钢卷取的齐整度控制在±0.1 mm范围内。

关 键 词:跑偏/对中(EPC/CPC)  纠偏  平行光投射系统  Chip  LED  CCD
文章编号:1005-0086(2006)05-0608-04
收稿时间:2005-08-11
修稿时间:2005-08-112005-12-18

EPC/CPC Digital Measurement System Based on Dual Linear CCD
HE Ping-an,PENG Xiao-jun,WANG Wei-ping,XIANG Ya-ping,ZHANG Ming-jian,WU Min-yuan.EPC/CPC Digital Measurement System Based on Dual Linear CCD[J].Journal of Optoelectronics·laser,2006,17(5):608-611.
Authors:HE Ping-an  PENG Xiao-jun  WANG Wei-ping  XIANG Ya-ping  ZHANG Ming-jian  WU Min-yuan
Abstract:
Keywords:Chip LED  CCD
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