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AlGaInP/GaAs HBT制备中质子注入隔离
引用本文:程知群,孙晓玮,夏冠群,李洪芹,盛怀茂,钱蓉.AlGaInP/GaAs HBT制备中质子注入隔离[J].物理学报,2000,49(2):375-378.
作者姓名:程知群  孙晓玮  夏冠群  李洪芹  盛怀茂  钱蓉
作者单位:中国科学院上海冶金研究所,上海200050
基金项目:国家“九五”攻关!(批准号 :97 773 0 3 0 1)资助的课题
摘    要:对HBT工艺中质子隔离注入及其掩膜方法进行了研究.通过计算确定了最佳注入剂量.在一定的温度下退火,可增强隔离效果,最佳退火温度依赖于离子注入剂量,当温度增高时,电阻率又开始下降,并趋向恢复到退火前的状态.采用Si3N4加光刻胶双层掩膜,工艺简单,重复性好,样品无沾污现象,隔离效果佳,制备的器件直流特性较好. 关键词

关 键 词:AlGaInP/GaAs  异质结比极型晶体管  质子注入隔离
收稿时间:1999-06-13
修稿时间:8/2/1999 12:00:00 AM

PROTON IMPLANT ISOLATION OF AlGaInP/GaAs HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTOR STRUCTURES IN FABRICATION
CHENG ZHI-QUN,SUN XIAO-WEI,XIA GUAN-QUN,LI HONG-QIN,SHENG HUAI-MAO,QIAN RONG.PROTON IMPLANT ISOLATION OF AlGaInP/GaAs HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTOR STRUCTURES IN FABRICATION[J].Acta Physica Sinica,2000,49(2):375-378.
Authors:CHENG ZHI-QUN  SUN XIAO-WEI  XIA GUAN-QUN  LI HONG-QIN  SHENG HUAI-MAO  QIAN RONG
Abstract:
Keywords
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