| 考虑串扰影响的时延测试 |
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| 引用本文： | 张月,李华伟,宫云战,李晓维.考虑串扰影响的时延测试[J].微电子学与计算机,2003,20(11):73-76. |
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| 作者姓名： | 张月 李华伟 宫云战 李晓维 |
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| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金主任基金项目(60242001)，计算技术研究所领域前沿青年基金项目(20016280-18) |
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| 摘 要： | 超深亚微米工艺下，串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题。本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法。该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生．大大提高了算法的效率。实验表明，以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内。对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生。
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| 关 键 词： | 集成电路 设计 集成度 串扰 时延测试 波形敏化 |
| 修稿时间： | 2003年5月26日 |
Delay Test Pattern Generation Considering Crosstalk-induced Effects |
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| ZHANG Yue,LI Hua-Wei,GONG Yun-Zhan,LI Xiao-Wei.Delay Test Pattern Generation Considering Crosstalk-induced Effects[J].Microelectronics & Computer,2003,20(11):73-76. |
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| Authors: | ZHANG Yue LI Hua-Wei GONG Yun-Zhan LI Xiao-Wei |
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| Abstract: | Current design trends have shown that crosstalk issues in deep sub-micron can cause severe design validation and test problems. In this paper, we address the problem of delay testing considering crosstalk-induced delay effects. A delay test pattern generation technique is proposed base on waveform sensitization. Crosstalk-induced effects on critical paths are targeted to improve test effectiveness of delay testing. Therefore, it can be applied to circuits of reasonable sizes by generating delay tests considering crosstalk-induced effects within an acceptable amount of time. |
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| Keywords: | Crosstalk Delay testing Waveform sensitization Critical path |
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