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X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨
引用本文:王效瑞,沈礼轩,汪厚基.X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨[J].分析化学,1983(3).
作者姓名:王效瑞  沈礼轩  汪厚基
作者单位:中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所
摘    要:本文详细考察了各种基本参数(X光管的光谱强度分布除外)的不准确性对分析结果的影响程度。结果表明,单标样法对基本参数的不准确度具有明显的抵偿作用,目前的文献数据可以满足单标样法的要求。弄清了其抵偿机理,在计算程序的规格化步骤中引入系数K,改善了分析结果的准确度。分析黄铜和Fe-Cr-Ni合金中的六个成份,获得了令人满意的结果。

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