X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨 |
| |
引用本文: | 王效瑞,沈礼轩,汪厚基.X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨[J].分析化学,1983(3). |
| |
作者姓名: | 王效瑞 沈礼轩 汪厚基 |
| |
作者单位: | 中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海冶金研究所 |
| |
摘 要: | 本文详细考察了各种基本参数(X光管的光谱强度分布除外)的不准确性对分析结果的影响程度。结果表明,单标样法对基本参数的不准确度具有明显的抵偿作用,目前的文献数据可以满足单标样法的要求。弄清了其抵偿机理,在计算程序的规格化步骤中引入系数K,改善了分析结果的准确度。分析黄铜和Fe-Cr-Ni合金中的六个成份,获得了令人满意的结果。
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|