| 集电极取样电路具有缺陷的晶体管特性图示器改进方法 |
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| 引用本文： | 顾江,范瑜. 集电极取样电路具有缺陷的晶体管特性图示器改进方法[J]. 大学物理实验, 2002, 15(1): 1-2 |
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| 作者姓名： | 顾江 范瑜 |
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| 作者单位： | 常熟高等专科学校，常熟，215500 |
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| 摘 要： | JT-1型晶体管特性图示器由于其读测简便、直接显示的优点而被广泛采用，但有的晶体管特性图示器集电极取样电路设计具有一定的缺陷，会给测量带来严重的影响。本提出了自己的观点，并给出了改进方法。
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| 关 键 词： | 集电极电压 取样电路 电路设计 晶体管 特性图示器 |
| 文章编号： | 1007-2934(2002)01-0001-02 |
| 修稿时间： | 2001-05-10 |
AMELIORATION OF COLLECTING ELECTRODE SAMPLING CIRCUIT IN TRANSISTOR CHARACTERISTIC EXHIBIT INSTRUMENT |
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| Gu Jiang Fan Yu. AMELIORATION OF COLLECTING ELECTRODE SAMPLING CIRCUIT IN TRANSISTOR CHARACTERISTIC EXHIBIT INSTRUMENT[J]. Physical Experiment of College, 2002, 15(1): 1-2 |
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| Authors: | Gu Jiang Fan Yu |
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| Abstract: | Being simple and convenient in usage,transistor exhibit instrument isused widely.But some of them have disfigurement,their collecting electode sampling circuit has some limitation.So it will cause serious effect in measuring .Inthis paper,A new method is put forward to ameliorate the circuit. |
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| Keywords: | collecting electrode voltage sampling circuit circuitdesign |
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