| 用高分辨率电感耦合等离子体-原子发射光谱仪测定高纯铬中的杂质元素 |
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| 引用本文： | 纪杉,计子华,端裕树. 用高分辨率电感耦合等离子体-原子发射光谱仪测定高纯铬中的杂质元素[J]. 分析科学学报, 2006, 22(2): 222-224 |
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| 作者姓名： | 纪杉 计子华 端裕树 |
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| 作者单位： | 岛津国际贸易(上海)有限公司北京分析中心,北京,100020 |
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| 摘 要： | 本文报道了高分辨率、高灵敏度的顺序扫描型电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICPS-8100)在高纯物质分析中的应用。对元素分析线进行优化选择;采用轴向观测方式,对高纯铬中μg/g级的杂质元素As、Sn、Sb、Pb进行直接同时测定,分析结果令人满意。
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体原子发射光谱 高分辨率 高纯铬 杂质元素 |
| 文章编号： | 1006-6144(2006)02-0222-03 |
| 收稿时间： | 2006-03-28 |
| 修稿时间： | 2006-04-05 |
Determination of Trace Elements in High-Purity Chromium by ICP-AES Instrument with High Resolution |
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| JI Shan,JI Zi-hua,YUKI Hashi. Determination of Trace Elements in High-Purity Chromium by ICP-AES Instrument with High Resolution[J]. Journal of Analytical Science, 2006, 22(2): 222-224 |
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| Authors: | JI Shan JI Zi-hua YUKI Hashi |
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| Affiliation: | Analytical Applications Center ,Shimadzu International Trading (Shanghai |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Inductively coupled plasma atomic emission spectrophotometry(ICP-AES) High-purity chromium Trace elements |
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