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扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用
引用本文:郑鑫,由吉春,朱雨田,李勇进. 扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用[J]. 高分子学报, 2022, 53(5): 539-560. DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2021.21377
作者姓名:郑鑫  由吉春  朱雨田  李勇进
作者单位:杭州师范大学材料与化学化工学院 杭州311121
基金项目:国家自然科学基金(基金号52103026,51890872);;浙江省自然科学基金重大项目(基金号LD19E030001)资助项目;
摘    要:扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)是表征高分子材料微观结构及其组成信息重要的手段之一,具有操作简便、信号电子种类多样且对样品损伤较小等特点.本文系统阐述了SEM的工作原理,通过与透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)进行比较,突出了其优势与特色.详细讨论了该技术的测试方法,包括样品制备、仪器参数设定、操作技巧与图像处理,并揭示了获得高质量SEM图像的关键技术.介绍了SEM不同的信号电子成像、SEM与其他仪器联用及SEM原位分析技术在高分子材料表征中的应用与进展.最后,对SEM的发展趋势进行了展望.

关 键 词:扫描电子显微镜  高分子材料  微观结构  组成信息  应用

Applications of Scanning Electron Microscopy in Polymer Characterization
Xin Zheng,Ji-chun You,Yu-tian Zhu,Yong-jin Li. Applications of Scanning Electron Microscopy in Polymer Characterization[J]. Acta Polymerica Sinica, 2022, 53(5): 539-560. DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2021.21377
Authors:Xin Zheng  Ji-chun You  Yu-tian Zhu  Yong-jin Li
Abstract:
Keywords:
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