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| 介质谐振器法测量超导微波表面电阻 | |
| 引用本文： | 李伟华,黄贺生,曹必松,朱美红,张雪霞,张留碗,吴振一,周岳亮,何萌,陈正豪. 介质谐振器法测量超导微波表面电阻[J]. 低温物理学报, 1999, 21(6): 438-441 |
| 作者姓名： | 李伟华 黄贺生 曹必松 朱美红 张雪霞 张留碗 吴振一 周岳亮 何萌 陈正豪 |
| 作者单位： | 1. 清华大学现代应用物理系,北京,100084 2. 清华大学电子工程系,北京,100084 3. 中国科学院物理研究所,北京,100080 |
| 摘 要： | 高温超导薄材料在微波器件中应用的出发点主要是利用它在临界温度下极低的表面电阻。因此要对超导器件性能作出准确的评估，必须精确测量超导薄膜的微波表面电阻。本文提出了利用蓝宝石介质圆柱的ＴＥ０１１谐振模式来测量超导微波表面电阻的一种方法。设计并制作了工作于１８．９ＧＨｚ和１７．６ＧＨｚ的两种高Ｑ值谐振器。其在测试中表现出了相当高的灵敏度。同时具有不损坏被测薄膜，安装调试简单方便，可重复性好的优点，可用于 |
| 关 键 词： | 介质谐振器 超导薄膜 微波器 表面电阻 |
DIELECTRIC RESONATOR METHOD FOR MEASUREMENT OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF SUPERCONDUCTING THIN FILMS |
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| Li Wei-hua,Huang He-sheng,Cao Bi-song,Zhu Mei-hong,Zhang Xue-xia,Zhang Liu-wan,Wu Zhen-yi,Zhou Yue-liang,He Meng,Chen Zheng-hao. DIELECTRIC RESONATOR METHOD FOR MEASUREMENT OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF SUPERCONDUCTING THIN FILMS[J]. Chinese Journal of Low Temperature Physics, 1999, 21(6): 438-441 | |
| Authors: | Li Wei-hua Huang He-sheng Cao Bi-song Zhu Mei-hong Zhang Xue-xia Zhang Liu-wan Wu Zhen-yi Zhou Yue-liang He Meng Chen Zheng-hao |
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