| 薄层树脂吸光光度法测定痕量锡（Ⅳ）研究 |
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| 引用本文： | 赵公宣.薄层树脂吸光光度法测定痕量锡（Ⅳ）研究[J].理化检验(化学分册),2001,37(3):113-114. |
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| 作者姓名： | 赵公宣 |
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| 作者单位： | 平顶山天鹰集团公司 |
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| 摘 要： | 提出了薄层树脂相光度法测定锡的操作条件，采用在0．1mol.L^-1的HCl介质中，以水杨基荧光酮（SAF）为显色剂，用阴离子交换树脂吸附测定锡，灵敏度比溶液光度法提高80倍，除As（Ⅲ），Sb(Ⅲ),Fe(Ⅲ)外，其余共存离子基本无干扰，测定了天然水中锡，加标回收率为93％－99％。Ⅲ
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| 关 键 词： | 薄层树脂相 吸光光度法 测定 锡 天然水 阴离子交换树脂 吸附 |
| 文章编号： | 1001-4020(2001)03-0113-02 |
| 修稿时间： | 2000年9月28日 |
THIN LAYER RESIN PHASE-PHOTOMETRIC DETERMINATION OF TRACE AMOUNTS OF TIN ( |
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| ZHAO Gong xuan.THIN LAYER RESIN PHASE-PHOTOMETRIC DETERMINATION OF TRACE AMOUNTS OF TIN ([J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2001,37(3):113-114. |
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| Authors: | ZHAO Gong xuan |
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| Abstract: | |
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