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| 用于调整和测量平面相控阵天线的近场测试台 | |
| 引用本文： | U.佩特里,箭隆.用于调整和测量平面相控阵天线的近场测试台[J].雷达与对抗,1985(6). |
| 作者姓名： | U.佩特里 箭隆 |
| 摘 要： | 一、近场中天线阵覆盖的测量原理通常,用相控阵天线不仅可望对方向图的变化实行电控,而且还可改善方向图的分布特性,特别是可获得低的旁瓣电平。这些特性基本上由覆盖(功率和相位在天线口径上的分布)所决定。原则上,用组合线路进行功率分配的阵列比用反射器能更好地控制覆盖;对此,相控阵能够通过相应的相位控制来补偿相位,从而实现对覆盖的控制。但是,这种功率分配需用大量的元器件(如功率分配器、同轴线、插头、移相器和辐射单元等),由于存在加工公差和安装不妥,这些元器件是产生覆盖相位误差和幅度误差以致引起方向图变坏的主要原因。这时,关键的是系统误差,当存在这种误差时,有较多的辐射单 |
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