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多角测试技术
引用本文:甘宏,汪建军.多角测试技术[J].电子产品可靠性与环境试验,2017,35(Z1).
作者姓名:甘宏  汪建军
摘    要:介绍了一种能够在测试中快速地激发出数字单板的设计缺陷的新方法——多角测试,从多角测试的原理、实施过程、实践效果和展望等方面进行了详细的论述.

关 键 词:多角测试  原理  方案设计  实施过程  实战效果

MCT Technology
GAN Hong,WANG Jianjun.MCT Technology[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2017,35(Z1).
Authors:GAN Hong  WANG Jianjun
Abstract:
Keywords:
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