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Energydispersive XRFA of samples with an unknown low atomic number matrix in an unknown intermediate thickness (A tool for a quick trace element determination in geochemical and environmental investigations)
Authors:H -K Bothe
Institution:(1) Zentralinstitut für Isotopen- und Strahlenforschung der Akademie der Wissenschaften der DDR, Permoserstr. 15, DDR-705 Leipzig, German Democratic Republic
Abstract:Summary A good correlation between the mass attenuation coefficients mgr of mixtures and compounds at low atomic number elements (Z<21) and the corresponding coherent and incoherent cross sections sgr c resp. sgr i was been found in the form of mgr=K 1 · (sgr c/sgr i) K 2. This correlation is also valid between mgr and the net counting rates of the coherent resp. incoherent scattered exciting radiation with failures of less than about 10%. This fact is independent of the thickness of the specimen and may be used as a basis of a semi-empirical fundamental parameter matrix correction method demanding no knowledge about the composition of the low atomic number matrix of the sample as well as about the thickness of the specimen. The routine performance of the matrix correction made on-line with a personal computer is simplified by the discrimination between major and trace elements. It is not applicable if the sample contains major elements Z>20 having no X-ray line in the investigated energy region.
Energiedispersive RFA von Proben mit einer Matrix von unbekannter niedriger Ordnungszahl in unbekannter mittlerer Dicke (Eine Möglichkeit zur schnellen Spurenelementbestimmung in geochemischen und Umweltproben)
Zusammenfassung Es wird gezeigt, daß zwischen dem Massenschwächungskoeffizienten mgr von Gemischen bzw. Verbindungen aus den Elementen Z<21 und den entsprechenden Querschnitten sgr k und sgr i für die kohärente bzw. inkohärente Streuung die Beziehung mgr=k 1 · (sgr k/sgr i) K 2 besteht und daß diese Beziehung unabhängig von der Dicke der Probe bei der gewählten Meßanordnung auch gilt, wenn statt der Streuquerschnitte die Nettoimpulsraten I k und I i der kohärent und inkohärent gestreuten Strahlung eingesetzt werden. Daraus wird ein semiempirisches Fundamentalparameter-Matrixkorrekturverfahren abgeleitet, bei welchem keine Vorkenntnis über die Konzentration der Elemente Z<21 sowie die Dicke der Meßprobe erforderlich ist. Die durch einen Personal Computer on-line durchführbare Korrekturrechnung wird dadurch vereinfacht, daß zwischen Hauptelementen und Spurenelementen unterschieden wird. Sie ist nur dann nicht anwendbar, wenn Elemente Z>20 in hoher Konzentration in der Probe enthalten sind, die im untersuchten Spektralbereich keine Röntgenfluorescenzstrahlung emittieren.
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