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微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定
引用本文:黎航,曹柱荣,赵宗清,巫顺超,董建军,易荣清,陈凯.微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定[J].强激光与粒子束,2008,20(6).
作者姓名:黎航  曹柱荣  赵宗清  巫顺超  董建军  易荣清  陈凯
作者单位:1. 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900; 2. 中国科学院 高能物理研究所, 北京 100049
摘    要: 在北京同步辐射3B3中能X射线束线2.0~5.5 keV能段对微通道板(MCP)透过率进行了测量标定。实验表明,MCP在2.0 keV的低能段处和5.5 keV的高能段处的透过率较高,而中段较低。对MCP透射和X光在MCP毛细导管列阵中的全反射两种机制进行了物理建模,分别计算验证。结果发现:X光在毛细导管内掠入射会产生全反射,且能段越低反射率越高;MCP透过率特性正是MCP特殊的结构和材料造成的,为透射和反射两种机制共同贡献的结果,低能端主要来自X光在毛细导管中的全反射贡献,高能端主要来自透射贡献。

关 键 词:微通道板  X射线  透过率  同步辐射  标定
收稿时间:1900-01-01;
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