X射线激光场图测量方法 |
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作者姓名: | 王琛 王伟 孙今人 方智恒 吴江 马伟新 傅思祖 顾援 王世绩 |
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摘 要: | X射线激光具有波长短、脉冲短、亮度高而又具有良好相干性的优点,因此在很多领域有潜在的应用前景。了解X射线激光输出的特性是对X射线激光应用研究的前提,也有必要进行深人的研究。通常情况,都是利用平焦场光栅谱仪来进行X射线激光的探测,测量诸如输出强度、发散角、折射角等参数,并且作为优化驱动条件和输出特性的依据。但是现在这种方法却有很大的局限性:因为它给出的只是在某个方向上、某个局部位置的结果,所以很难获得全面的关于X射线激光输出特性。而利用场图测量的方法,
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关 键 词: | X射线激光 场图测量 输出特征 技术参数 |
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