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| X射线激光场图测量方法 | |
| 引用本文： | 王琛,王伟,孙今人,方智恒,吴江,马伟新,傅思祖,顾援,王世绩.X射线激光场图测量方法[J].工程物理研究院科技年报,2003(1):118-119. |
| 作者姓名： | 王琛 王伟 孙今人 方智恒 吴江 马伟新 傅思祖 顾援 王世绩 |
| 摘 要： | X射线激光具有波长短、脉冲短、亮度高而又具有良好相干性的优点，因此在很多领域有潜在的应用前景。了解X射线激光输出的特性是对X射线激光应用研究的前提，也有必要进行深人的研究。通常情况，都是利用平焦场光栅谱仪来进行X射线激光的探测，测量诸如输出强度、发散角、折射角等参数，并且作为优化驱动条件和输出特性的依据。但是现在这种方法却有很大的局限性：因为它给出的只是在某个方向上、某个局部位置的结果，所以很难获得全面的关于X射线激光输出特性。而利用场图测量的方法， |
| 关 键 词： | X射线激光 场图测量 输出特征 技术参数 |
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