| 电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定CPU导热硅脂中的铅和镉 |
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| 引用本文： | 万彩霞,肖新颜. 电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定CPU导热硅脂中的铅和镉[J]. 光谱实验室, 2007, 24(5): 844-847 |
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| 作者姓名： | 万彩霞 肖新颜 |
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| 作者单位： | 华南理工大学化学科学学院,广州市五山路381号,510640;华南理工大学化工与能源学院,广州市五山路381号,510640 |
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| 摘 要： | 采用几种消解方法对样品进行前处理,建立了电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)同时测定导热硅脂中铅、镉等有害金属元素的方法.结果表明:高温灰化法Pb、Cd有损失;(1 1)王水湿法消解法Pb有损失;硝酸-高氯酸湿法消解法Pb和Cd几乎无损失;该方法精密度范围为0.22%-2.40%,Pb和Cd检出限分别为0.030μg·mL-1和0.006μg·mL-1.与石墨炉原子吸收光谱法(GFAAS)相比,ICP-AES具有简单、快速、准确等特点.
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES) CPU导热硅脂 铅 镉 |
| 文章编号： | 1004-8138（2007）05-0844-04 |
| 修稿时间： | 2007-05-23 |
Determination of Pb and Cd in Heat Conduct Silicone in CPU by ICP-AES |
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| WAN Cai-Xia,XIAO Xin-Yan. Determination of Pb and Cd in Heat Conduct Silicone in CPU by ICP-AES[J]. Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory, 2007, 24(5): 844-847 |
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| Authors: | WAN Cai-Xia XIAO Xin-Yan |
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| Affiliation: | College of Chemistry, South China University of Technology, Guangzhou 510640, P. R. China ;College of Chemical and Energy Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 51064, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP-AES Heat Conduct Silicone for CPU Pb Cd. |
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