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SiO2-羟基表面上金属原子的第一性原理研究
引用本文:姚红英,顾晓,季敏,张笛儿,龚新高. SiO2-羟基表面上金属原子的第一性原理研究[J]. 物理学报, 2006, 55(11)
作者姓名:姚红英  顾晓  季敏  张笛儿  龚新高
基金项目:国家自然科学基金;上海市科委资助项目;国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:采用第一性原理方法研究了SiO2-羟基表面上几种金属原子的吸附性质,发现In和Ga在SiO2-羟基表面上的结合很弱,而Fe,Co,Ni在该表面上与Si,O形成强的化学键.等势能面和扩散势垒计算表明In(Ga)的扩散激活能只有0.1-0.3 eV,表明这两种原子容易在表面上扩散.这些结果可以定性地解释纳米合成中的一些实验现象.

关 键 词:第一性原理  表面扩散  结合能  金属原子

First-principles study of metal atoms adsorbed on SiO2 surface
Yao Hong-Ying,Gu Xiao,Ji Min,Zhang Di-Er,Gong Xin-Gao. First-principles study of metal atoms adsorbed on SiO2 surface[J]. Acta Physica Sinica, 2006, 55(11)
Authors:Yao Hong-Ying  Gu Xiao  Ji Min  Zhang Di-Er  Gong Xin-Gao
Abstract:
Keywords:
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