|
|||||
|
|
| MgB2超导薄膜的微波测量 | |
| 引用本文： | 王淑芳,B.B.Jin,刘震,周岳亮,陈正豪,吕惠宾,程波林,杨国桢.MgB2超导薄膜的微波测量[J].物理学报,2005,54(5):2325-2328. |
| 作者姓名： | 王淑芳 B.B.Jin 刘震 周岳亮 陈正豪 吕惠宾 程波林 杨国桢 |
| 作者单位： | 1. 河北大学物理科学与技术学院,保定,071002;中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室,北京,100080 2. Forchungszentrum Julich,Institute of Thin Films and Interfaces,D-52425 Julich,Germany 3. 中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室,北京,100080 |
| 基金项目： | 国家重点基础研究专项经费 (批准号 :1990 64 60 4)资助的课题 .~~ |
| 摘 要： | 报道了利用蓝宝石介质谐振器技术测量MgB2超导薄膜的微波表面电阻Rs、OK时的穿透深度λ(O)和超导能隙△(O)．λ(O)和△(O)的值是通过先测量样品穿透深度λ(T)的变化量△λ(T)，然后由BCS理论模型拟合△λ（T)的实验数据得到的．测试样品是利用化学气相沉积技术在MgO(111)基片上制备的c轴织构的MgB2超导薄膜，薄膜的超导转变温度和转变宽度分别为38K和0．1K．微波测试结果表明在10K，18GHz下MgB2薄膜的Rs约为100μΩ，可以和高质量的YBCO薄膜的Rs值相比拟；BCS理论拟合得到的MgB2超导薄膜的λ(0)=102nm，△(0)：1．13kTc． |
| 关 键 词： | 微波表面电阻 穿透深度 二硼化镁 超导薄膜 |
Microwave measurements of the MgB2 thin film |
|
| Wang Shu-Fang,B.B.Jin,Liu Zhen,Zhou Yue-Liang,Lü Hui-Bin,Chen Zheng-Hao,Cheng Bo-Lin,Yang Guo-Zhen.Microwave measurements of the MgB2 thin film[J].Acta Physica Sinica,2005,54(5):2325-2328. | |
| Authors: | Wang Shu-Fang BBJin Liu Zhen Zhou Yue-Liang Lü Hui-Bin Chen Zheng-Hao Cheng Bo-Lin Yang Guo-Zhen |
| Abstract: | |
| Keywords: | microwave surface resistance penetration depth MgB_2 thin film |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《物理学报》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《物理学报》下载免费的PDF全文 | |