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| X射线粉末衍射图谱的自动检索 | |
| 作者姓名： | 高培峰 戚绍祺 陈竟坤 蔡家海 孙乃久 张坚鹏 |
| 摘 要： | <正> X射线衍射分析是晶体物相分析的一个重要手段。几十年来,已积累了几万个样品的标准图谱。每个标准图谱卡包括有样品成分及其结构,各条谱线的面间距d(d=λ/2sinθ,其中λ—X射线波长,θ—衍射角)和相对强度Ⅰ以及卡片号。为便于检索,人们从各种目的出发编制了以不同项目为主项的检索索引。但即使这样,要从如此众多的图谱中鉴别出待定样品的成分,还要花费很大的精力,特别是对多组分的样品就更感困难。近年来,电子计算机已广泛应用于各类数据检索,使检索高效、自动化。但设备和对象不同,各有其需解决的特殊矛盾。由于粉末衍射图谱数量很大,用微型计算机进行X射线粉末衍射图谱检索,要解决如何提高检索速度和克服存贮容量小的问题, |
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