测试技术综述 |
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引用本文: | 鲜飞.测试技术综述[J].世界电子元器件,2001(7):76-78. |
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作者姓名: | 鲜飞 |
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作者单位: | 精伦电子有限公司 |
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摘 要: | 要在当今竞争激烈的市场中立足,电子产品生产厂家就必须确保产品质量。为了保证产品质量,在生产过程中就需要采用各类测试技术进行检测,及时发现缺陷和故障并修复。根据测试方式的不同,SMT测试技术可分为非接触式测试和接触式测试。非接触式测试已从人工目测发展到自动光学检查(AOI)、自动射线检测(AXI),而接触式测试则可分为在线测试和功能测试两大类。本文将对各类测试技术及未来发展趋势作一初步探讨。
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关 键 词: | 测试技术 功能测试 电子产品 |
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