首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

测试技术综述
引用本文:鲜飞.测试技术综述[J].世界电子元器件,2001(7):76-78.
作者姓名:鲜飞
作者单位:精伦电子有限公司
摘    要:要在当今竞争激烈的市场中立足,电子产品生产厂家就必须确保产品质量。为了保证产品质量,在生产过程中就需要采用各类测试技术进行检测,及时发现缺陷和故障并修复。根据测试方式的不同,SMT测试技术可分为非接触式测试和接触式测试。非接触式测试已从人工目测发展到自动光学检查(AOI)、自动射线检测(AXI),而接触式测试则可分为在线测试和功能测试两大类。本文将对各类测试技术及未来发展趋势作一初步探讨。

关 键 词:测试技术  功能测试  电子产品
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号