锰-锌铁氧体的x-射线荧光光谱分析法 |
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作者姓名: | 唐光华 于思俭 曾光国 王存珍 |
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作者单位: | 天津市半导体技术研究所,天津市半导体技术研究所,天津七五四厂,天津七五四厂 |
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摘 要: | 锰-锌铁氧体是用作计算机、电视机、通讯机等电子设备中的一种软磁材料,其磁性能与其化学成分密切相关。要制备优质锰-锌铁氧体,必须精确分析、严格控制其化学成分,传统的湿化学分析法就难于满足这种要求。在研制锰-锌铁氧体的工作中,通过近千个样品分析表明x-射线荧光“强度比”的方法,能方便地解决这一问题。此法是通过解下列方程式
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