首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

电荷收集法测量低温等离子体密度
引用本文:陈玉兰,曾正中,蒯斌,邱爱慈,丛培天,梁天学,王亮平,孙凤举,尹佳辉. 电荷收集法测量低温等离子体密度[J]. 强激光与粒子束, 2005, 17(2): 206-208
作者姓名:陈玉兰  曾正中  蒯斌  邱爱慈  丛培天  梁天学  王亮平  孙凤举  尹佳辉
作者单位:西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024;西北核技术研究所,陕西,西安,710024
基金项目:国家自然科学基金重点资助课题(10035020)
摘    要:利用电荷收集法,在正(135 V)、负(-117 V)偏置和低真空背景(0.5 Pa)三种不同收集条件下,测量了用于等离子体断路开关的电缆等离子体枪产生的低温等离子体的密度和漂移速率,测量值分别为8.3×1014,1.2×1015,4.8×1014 cm-3;2.5,2.0 cm·μs-1。测量结果表明:三种收集条件下测得的等离子体漂移速率相近;在相同测量点处,负偏置收集条件下测得的等离子体密度大于正偏置和低真空背景收集条件下的测量值,而低真空背景收集条件下的测量值最小。

关 键 词:低温等离子体  等离子体断路开关  电荷收集器  等离子体密度
文章编号:1001-4322(2005)02-0206-03
收稿时间:2004-07-12
修稿时间:2004-07-12

Measurement of low-temperature plasma density with charge collectors
CHEN Yu-lan,ZENG Zheng-zhong,KUAI Bin,QIU Ai-ci,CONG Pei-tian,LIANG Tian-xue,WANG Liang-Ping,SUN Feng-ju,YIN Jia-hui. Measurement of low-temperature plasma density with charge collectors[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2005, 17(2): 206-208
Authors:CHEN Yu-lan  ZENG Zheng-zhong  KUAI Bin  QIU Ai-ci  CONG Pei-tian  LIANG Tian-xue  WANG Liang-Ping  SUN Feng-ju  YIN Jia-hui
Affiliation:1.Northwest Institute of Nuclear Technology,P.O.Box 69-10,Xi’an 710024,China
Abstract:The density and drift velocity of the low-temperature plasma produced by a cable plasma gun array are measured with charge collectors under positive(135 V) and negative bias(-117 V) and low-pressure air-embedment(0.5 Pa) without bias. The drift velocities under different collecting conditions are close to each other, which are 2.5,2.4,2.0 cm·μs-1 respectively. At the same place, the measured plasma densities are 8.3×1014,1.2×1015,4.8×1014 cm-3 respectively. The density is the greatest with negative bias and the smallest with low-pressure air-embedment.
Keywords:Low-temperature plasma  Plasma opening switch  Charge collector  Plasma density  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《强激光与粒子束》浏览原始摘要信息
点击此处可从《强激光与粒子束》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号