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X射线屏的理论效率和实验效率

作者姓名：	A.L.N.Stevels

作者单位：	荷兰菲利普研究实验室

摘要：	作者计算了新、老X射线磷光体屏的射线检测理论效率。对于给定的X射线能量来说,X射线量子检测效率定义如下: QDE_E=A_E·η·λ_(Em)·C_E·Dλ
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