首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Analytische Charakterisierung von Phosphor in Hartmetallen und Rohstoffen
Authors:E Kny  M Grasserbauer  P Wilhartitz  G Stingeder und H Goretzki
Institution:(1) Metallwerk Plansee GmbH, A-6600 Reutte, Österreich;(2) Institut für Analytische Chemie, Technische Universität Wien, Getreidemarkt 9, A-1060 Wien, Österreich;(3) Physical Electronics Division, Perkin-Elmer, Bahnhofstraße 30, D-8011 Vaterstetten, Bundesrepublik Deutschland
Abstract:Zusammenfassung Es wird über die metallurgische Bedeutung und die analytische Charakterisierung von Spurengehalten von Phosphor in Hartmetallen und deren Ausgangsprodukten berichtet. Für die quantitative Durchschnittsanalyse von Phosphorgehalten von wenigen mgrg/g kann SIMS erfolgreich eingesetzt werden. Diese Methode verfügt über die entsprechende Nachweisstärke sowie ausreichende Richtigkeit und ermöglicht es, die Herkunft der Phosphorspuren und die Änderung des Phosphorgehaltes beim Sintern zu ermitteln. Die Verteilungsanalyse an Bruchflächen mit Scanning-AES liefert die wichtige Information, daß P in einer nur wenigen Nanometer dicken Interfacezone zwischen den Carbidphasen angereichert vorliegt.
Analytical characterization of phosphorus in hard metals and raw materials
Summary The metallurgical significance and the analytical characterization of trace amounts of P in hard metals and raw materials is discussed. For quantitative bulk analysis in the low (mgrg/g-range SIMS can be used sucessfully. This method provides the necessary detection power and results of sufficient accuracy and enables to explain the origin of these trace contents of P and the study of the change of the P-concentration during sintering. Distribution analysis of fracture surfaces with Scanning AES yields the important information that P is mainly present in an interface zone of a few nanometers thickness between the carbide phases.


Hartmetall eine metallurgische Signifikanz haben und die mechanischen Eigenschaften des resultierenden Hartmetalls verändern können.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号