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| 用于光电子器件内场分布测量的双光路电光检测系统的研究 | |
| 引用本文： | 朱祖华,陈文正,丁纯,丁桂兰,傅晓华,戴鹂.用于光电子器件内场分布测量的双光路电光检测系统的研究[J].量子电子学报,1991(1). |
| 作者姓名： | 朱祖华 陈文正 丁纯 丁桂兰 傅晓华 戴鹂 |
| 作者单位： | 浙江大学信息与电子工程学系 310027 (朱祖华，陈文正，丁纯，丁桂兰，傅晓华)，浙江大学信息与电子工程学系 310027(戴鹂) |
| 摘 要： | 光电子和电子器件内部电荷、电场和电位的分布是一个十分基本的问题。就器件的设计和制作而言,对它的了解具有十分重要的意义。 虽然利用数值分析方法可以预测器件内部的电场和电位分布。然而,很久以来却缺 |
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