| 模拟线性电路K故障假设下最优可测试成分组的确定 |
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| 引用本文： | 谢宏,何怡刚,吴杰.模拟线性电路K故障假设下最优可测试成分组的确定[J].湖南大学学报(自然科学版),2003,30(2):51-53. |
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| 作者姓名： | 谢宏 何怡刚 吴杰 |
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| 作者单位： | 湖南大学电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 ( 5 970 70 0 2 ) ( 5 0 2 770 10 )，教育部科学技术研究重点项目 ( 990 90 )，教育部高等学校骨干教师资
助计划项目 (教育部 [2 0 0 0 ] 5 6号 )，高校博士学科点专项基金项目 ( 2 0 0 2 0 5 3 2 0 16) |
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| 摘 要： | 提出了模拟线性电路故障诊断中K故障假设下一组最优可测试成份确定的方法与步骤。该方法构成了故障定位的第一步，且与故障定位方法无关。本方法基于电路的可测试值计算和规范式不确定性组的确定，它在可测试性与不确定性组概念中具有严格的理论基础，其可测试性计算可直接从参数类型故障诊断技术中推得。
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| 关 键 词： | 可测试值 故障定位 规范式不确定性组 |
| 文章编号： | 1000-2472(2003)02-0051-03 |
| 修稿时间： | 2001年4月3日 |
Determination of Optimum Set of Testable Components Under K-fault Hypothesis in Analog Linear Circuits |
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| XIE Hong,HE Yi gang,WU Jie.Determination of Optimum Set of Testable Components Under K-fault Hypothesis in Analog Linear Circuits[J].Journal of Hunan University(Naturnal Science),2003,30(2):51-53. |
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| Authors: | XIE Hong HE Yi gang WU Jie |
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| Abstract: | A kind of method and procedure for determination of an optimum set of testable components in the fault diagnosis of analog linear circuits under K fault hypothesis is presented. The proposed procedure is the first step of fault diagnosis, which has no relationship with any method of fault location. It is based on the testability evaluation of the circuit and on the determination of the canonical ambiguity groups,and has its theoretical foundation in testability concept and in the canonical ambiguity group concept. The testability evaluation can be deduced by referring to fault diagnosis techniques of the parametric kind. |
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| Keywords: | testability value fault location canonical ambiguity group |
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