溶剂浸渍滤纸的制备及其在XRFA中的应用研究（二）──XRFA中溶剂浸渍滤纸制样法研究

本文报道了Ｐ５０７溶剂浸渍滤纸（ＳＩＦＰ）的制备方法及应用溶剂浸渍滤纸富集金属离子制备适合Ｘ射线荧光光谱分析样片的方法。在ｐＨ３介质中制备了Ｌａ（Ⅲ），Ｃｅ（Ⅲ），Ｙｂ（Ⅲ）；在ｐＨ２．５的介质中制备了Ｔｈ（Ⅳ）；在２ｍｏｌ／ＬＨＣｌ介质中制备了Ｚｒ（Ⅳ）与Ｈｆ（Ⅳ）等元素的标准系列样片。本文报道了经ＸＲＦ测定的数据。各元素的检出限ＣＤＬ分别为Ｌａ：０．３１５μｇ（Ｌａ２Ｏ３）；Ｃｅ：０．３５９μｇ（ＣｅＯ２）；Ｙｂ：０．７０９μｇ（Ｙｂ２Ｏ３）；Ｔｈ：０．６２２μｇ（ＴｈＯ２）；Ｚｒ：０．６６６μｇ（Ｚｒ）；Ｈｆ：１．０８μｇ（Ｈｆ）。样片稳定时间约四个月。本文还对制备ＳＩＦＰ时滤纸的选择，制备样片时溶液通过ＳＩＦＰ的次数等方面进行了讨论。