荧光粉表面吸附汞的检测

在荧光灯的燃点过程中，荧光粉表面沉积吸附的汞对光衰有重要的影响。本文提出用冷原子吸收方法（CVAAS）直接检测荧光粉表面吸附汞量的变化，利用室温下原子汞对254nm共振线的吸收，且其吸收与汞原子蒸气浓度成正比进行汞量测试，测得方法的标准曲线回归方程为Y＝0.4455X 0.2000，试样的加标回收率为92.3-99.8%，满足荧光粉含汞量测定的要求。对燃点不同时间后的铝酸盐蓝色荧光粉（BAM）进行测定，结果表明：荧光粉表面沉积吸附的汞量随点灯时间的延长而增加，与灯的光衰增大趋向一致，汞的吸附沉积确实是造成荧光灯光衰的主要原因之一。检测结果还表明，将未作表面包膜处理的BAM粉与经过表面包覆纳米Al2O3膜层处理的BAM粉作对照，前者的含汞量比后者的含汞量明显要高。可见：对荧光粉进行表面包膜处理，能够保护粉体、减少汞的沉积吸附，从而降低点灯过程中的光衰。

Determination of Mercury Adsorbed on Phosphor