| 有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极差分脉冲溶出伏安法测定痕量钯(Ⅱ) |
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| 引用本文： | 齐同喜,齐蕾.有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极差分脉冲溶出伏安法测定痕量钯(Ⅱ)[J].化学研究与应用,2015,27(3):241-245. |
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| 作者姓名： | 齐同喜 齐蕾 |
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| 作者单位： | 1. 山东理工大学化学工程学院,山东淄博,255049
2. 济南大学化学化工学院,山东济南,250022 |
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| 摘 要： | 将有序介孔碳(OMC)分散于壳聚糖(CTS)溶液中,修饰在玻碳电极表面,制成有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极(OMC-CTS-GCE),研究了钯(Ⅱ)在该电极上的电化学行为,探讨了电极反应机理,对测定条件进行了一系列优化,提出了一种测定痕量钯(Ⅱ)的方法。在0.1mol·L-1乙酸钠-0.1mol·L-1的盐酸缓冲溶液中(p H=4.5),钯(Ⅱ)在OMC-CTS-GCE电极上,于0.49 V处产生一灵敏的溶出峰,峰电流与钯(Ⅱ)的浓度在2.0×10-6~1.8×10-4mol·L-1范围内呈良好的线性关系,检出限(S/N=3)为1.5×10-6mol·L-1,方法应用于矿样中痕量钯(Ⅱ)的测定,结果同火焰原子吸收光谱法(FAAS)的测定结果基本一致。
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| 关 键 词： | 有序介孔碳 壳聚糖 修饰玻碳电极 钯(Ⅱ) |
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